LMI新產品MikroCAD 3D掃描器:適用高精度表面量測 (亞微米等級)

2014-12-25
LMI新產品MikroCAD 3D掃描器:適用高精度表面量測 (亞微米等級)


MikroCAD 3D掃描器:適用表面量測

 





MikroCAD掃描器在表面和小零件上可提供絕佳的精度和高速掃描,精度可至亞微米等級(sub-micron level)。 

此款是基於掃描、計量和質量控制等應用所設計,包括實驗室和產線線上自動化。

整合了掃描和分析軟體,MikroCAD代表一個完整的掃描和測量的解決方案,功能強大,易於使用。




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